Besuch im Fraunhofer IZM
15.03.2012
Forschung vor Ort: Zuverlässigkeit mikroelektronischer Systeme in den Bereichen Medizintechnik und Industrieelektronik
Donnerstag, 15.03.2012 18:00
Fraunhofer Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM
Gustav-Meyer-Allee 25
13355 Berlin
Begrüßung:
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Peter E. Schuhe
Professor Klaus-Dieter Lang
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Einführung in Aufgabenstellung und Strategie des Institutes
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Professor Klaus-Dieter Lang
Institutsleiter Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM |
Vorträge:
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18:15 Uhr
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Zukünftige Mikrosysteme für medizinische Produkte
Erik Jung, IZM |
18:30 Uhr
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Automatisierung und drahtlose Sensorik in der Industrieelektronik
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18:45 Uhr
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Zuverlässigkeit miktoelektronischer Systeme
Olaf Bochow-Neß, IZM |
19:00 Uhr
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Kurze Laborführungen im Wechsel:
Electronics Condition Monitoring Lab, |
19:30 Uhr
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Zwangloser Meinungs – und Erfahrungsaustausch
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Fraunhofer Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM
Die kleinste Mikrokamera der Welt für Einmal-Endoskope, energieautarke Funksen-sorsysteme, kombinierte Belastungstests von mikroelektronischen Systemen – das Fraunhofer Institut vereint hoch zuverlässige Elektronik mit deren Miniaturisierung und sorgt für die Integration in beliebige Anwendungssysteme.
Gezeigt werden spannende Mikroelektronik – Projekte aus folgenden Bereichen:
Medizintechnik
Das IZM kooperiert mit Partnern der Medizintechnik seit mehr als einem Jahrzehnt und ermöglicht mit seinem Technologie-Portfolio die Fortentwicklung von Herzschritt-machern, Netzhaut-Implantaten, Lab-on-Chip-Plattformen, neuroprothetischen Geräten oder Hörgeräten.
Industrieelektronik
Kaum ein anderes Anwendungsfeld der Elektronik ist so wichtig für den Wirtschafts-standort Deutschland, aber auch so innovativ und vielfältig, wie die Industrieelektronik. Das Spektrum reicht von der Sensorik über die energieeffiziente Steuerung von Maschinen, Anlagen und Logistikprozessen bis hin zur Verbesserung von Wartung und Instandhaltung durch Integration autarker Sensoren in Maschinen und Anlagen. Mit seinem breiten Technologieangebot unterstützt das IZM die Industrieelektronik mit der Entwicklung von Lösungen, die optimal an die Anwendungen angepasst sind.
Zuverlässigkeit mikroelektronischer Systeme
Die Untersuchungen am Institut setzen den Fokus auf Funktionstests elektronischer Systeme bei Umgebungsbeanspruchungen, die über reine thermo-mechanische Belastungen hinausgehen. Kombinierte Testverfahren - etwa Vibration in Kombination mit Feuchte und/oder Temperatur - kommen zum Einsatz. Eine genaue Zustands-bestimmung der Baugruppe während der Tests findet durch Messung degradations-abhängiger Parameter und über die Erfassung der Beanspruchungen statt. Die so erhaltenen Daten werden mit Ausfallmodellen verglichen und zum Aufbau von Zustandsindikatoren herangezogen
19.30 - Zwangloser Meinungs – und Erfahrungsaustausch.
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